Дифракция: ФДВР, ДРВ, ДН-6, СКАТ-ЭПСИЛОН, ФСД, ДН-12, ФСС
Малоугловое рассеяние: ЮМО
Рефлектометрия: РЕМУР, РЕФЛЕКС, ГРЕИНС
Неупругое рассеяние: НЕРА
Нейтронная радиография: НРТ
Ядерная физика: ИЗОМЕР, КОЛХИДА
Нейтронный активационный анализ: РЕГАТА
Облучающая установка
Список инструментов, включенных в программу пользователей
Название установки |
Область и предмет исследования |
Ответственный |
Дифракция |
||
ФДВР |
Определение с высокой точностью структурных параметров и микроструктуры кристаллических веществ |
Сумников С.В. |
ФСД |
Определение остаточных напряжений в объемных промышленных изделиях и новых перспективных материалах |
Папушкин И.В. +7 (49621) 6-21-33 Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript. |
ДН-12 |
Определение параметров кристаллической и магнитной структуры материалов при воздействии высокого давления |
Зель И.Ю. |
ДН-6 (в разработке) |
Определение параметров кристаллической и магнитной структуры материалов при воздействии высокого давления |
Лукин Е.В. |
ЭПСИЛОН |
Исследования макро- и микронапряжений (горных пород, конструкционных материалов) |
Сиколенко В.В. |
СКАТ |
Исследования текстуры геологических образцов (пород, минералов, конструкционных материалов) |
Николаев Д.И. |
Малоугловое рассеяние |
||
ЮМО |
Определение структурных характеристик (размер и форма частиц, агломераты, поры, фракталы) наноструктурных материалов и наносистем, включая полимеры, липидные мембраны, белки, растворители и т.д. |
Куклин А.И. |
Рефлектометрия |
||
ГРАИНС |
Исследования поверхности и связующих процессов в мягких и жидких наносистемах (магнитные жидкости, полимеры, липидные мембраны) |
Тропин Т.В. |
РЕМУР |
Определение намагниченного профиля многослойных магнитных наноструктур, исследования эффектов близости в наносистемах. |
Петренко А.В. Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript. co- responsible: Жакетов В.Д. Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript. |
РЕФЛЕКС |
Определение структурных характеристик тонких пленок и многослойных гетеросистем |
Садилов В. |
Неупругое рассеяние |
||
НЕРА |
Исследование динамики кристаллической решетки и структурных параметров молекулярных кристаллов, кристаллов с молекулярными ионами, особенно с широким полиморфизмом |
Горемычкин Е.А. Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript. co- responsible: Худоба Д. Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript. |
Нейтронно-активационный анализ |
||
РЕГАТА |
Определение элементного состава экологических, геологических, биологических, и других типов образцов. |
Зиньковская И. Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript. |